エタニ電機|音響用測定機とデジタル信号処理装置の開発・製造

S-280 TSパラメータ分析装置

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レーザー変位計を使った非接触測定で、スピーカ単体のTSパラメータと入力変化時のパラメータの非直線性を観察できます。

S-280の特長

  • 質量やスティフネスを付加することなく、非接触でTSパラメータの測定ができます。
  • DCバイアス変位を付加した状態のTSパラメータの測定から、振幅による非直線性が観察できます。
  • 入力変化に対する変位の非直線性をヒステリシスカーブの測定で確認できます。

S-280でできる測定

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